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三星基于新思科技Yield Explorer加速7纳米技术节点的新品量产

新思科技的综合良率学习平台加速了三星及其无晶圆厂用户的新品量产
Synopsys, Inc.
2019-08-07 08:00 12090

加州山景城2019年8月7日 /美通社/ --

重点:

  • 三星与新思科技的合作实现了10/8/7纳米产品的快速量产,并为5/4/3纳米技术节点的良率奠定了基础
  • 安全的解决方案确保三星及其无晶圆厂用户的设计和晶圆厂信息机密性的同时,共同确定系统性的良率限制因素
  • Yield Explorer平台使用产品设计、晶圆厂和测试数据,以及强大的数据挖掘和可视化技术,快速准确地识别出导致良率损失的主要原因

新思科技 (Synopsys, Inc.,纳斯达克股票代码:SNPS)近日宣布成功在三星先进FinFET技术节点上部署新思科技Yield Explorer®良率学习平台,用于加速新产品的量产。使用Yield Explorer中的安全数据交换机制,三星能够与用户共享用于良率分析的数据,如芯片设计、晶圆厂和测试的数据,同时维护各方专有信息的机密性。

三星电子(Samsung Electronics)代工厂设计技术团队副总裁JY Choi表示:“用户希望我们提供快速、低成本的制造技术,以便让他们的产品满足苛刻的市场需求。使用了Yield Explorer的安全协作模式可极大地帮助我们建立与关键用户的有效合作,以快速实现目标生产良率。我们期待在加速5纳米技术节点产品量产的过程中,扩大与新思科技的合作。”

新思科技半导体事业部全球总经理Howard Ko表示:“良率分析是一项复杂的任务,需要来自不同组织的团队之间的协作。确定良率限制因素的速度和准确性对于实现高成本效益、高产量生产至关重要。我们很高兴与三星合作部署Yield Explorer,促进其与用户的合作,并加速新产品量产。”

新思科技Yield Explorer是一个综合的良率学习平台,产品和良率工程团队使用来自不同来源的数据进行根本原因分析。这些来源包括:

  • 产品设计数据:布局、网表、测试诊断、静态时序分析
  • 晶圆厂数据:检验、计量、晶圆允收测试(WAT)
  • 产品测试数据:Bin、参数化、系统级测试

Yield Explorer中强大的分析引擎使用先进的机器学习和数据可视化技术,以快速的周转时间交付高质量的结果。

消息来源:Synopsys, Inc.
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