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宜特晶圆减薄能力达1.5mil

随5G、物联网、电动车蓬勃发展,对于低功耗要求越来越高,功率半导体成为这些产业势不可挡的必备组件。宜特晶圆后端工艺厂的晶圆减薄能力也随之精进。宜特今宣布,晶圆后端工艺厂,通过客户肯定,成功开发晶圆减薄达1.5mil技术,技术门坎大突破。

台北2021年1月6日 /美通社/ -- 随5G、物联网、电动车蓬勃发展,对于低功耗要求越来越高,功率半导体成为这些产业势不可挡的必备组件。宜特(TWSE: 3289)晶圆后端工艺厂的晶圆减薄能力也随之精进。宜特今(1/6)宣布,晶圆后端工艺厂竹科二厂,通过客户肯定,成功开发晶圆减薄达1.5mil(38um)技术,技术门坎大突破。同时,为更专注服务国际客户,即日起成立宜锦股份有限公司(Prosperity Power Technology Inc)。

使用控片测得2mil、1.5 mil、1.5 mil优化条件后的损坏层厚度及TEM分析
使用控片测得2mil、1.5 mil、1.5 mil优化条件后的损坏层厚度及TEM分析

宜特指出,功率半导体进行减薄,一直都是改善工艺,使得功率组件实现低功耗、低输入阻抗最直接有效的方式。晶圆减薄除了有效减少后续封装材料体积外,还可因降低RDS(on)导通阻抗进而减少热能累积效应,以增加芯片的使用寿命。

但如何在减薄工艺中降低晶圆厚度,又同时兼顾晶圆强度,避免破片率居高不下之风险自晶圆减薄最大的风险。

为解决此风险,iST宜特领先业界,已完成2mil(50um)、1.5mil(38um),甚至到0.4mil(10um)减薄技术开发,iST宜特更藉由特殊的优化工艺,在降低晶圆厚度的同时,也兼顾晶圆强度,可将研磨损伤层(Damage layer)降到最低。

关于宜特科技

始创于1994年,iST宜特从 IC 线路除错及修改起家,逐年拓展新服务,包括失效分析、可靠性验证、材料分析等,建构完整验证与分析工程平台与全方位服务。客群囊括电子产业上游 IC 设计至中下游成品端,并建置车用电子验证平台、高速传输信号测试。宜特秉持着提供客户完整解决方案的宗旨,从验证领域,跨入晶圆后端工艺整合量产服务。更多讯息请上官网 https://www.istgroup.com

消息来源:Integrated Service Technology Inc. (iST)
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